[发明专利]一种右侧B柱的检具结构在审
申请号: | 201310548983.8 | 申请日: | 2013-11-08 |
公开(公告)号: | CN103630002A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 朱建平 | 申请(专利权)人: | 无锡市麦希恩机械制造有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 | 代理人: | 杜丹盛 |
地址: | 214027 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 发明提供了一种右侧B柱的检具结构,其使得右侧B柱的检测工艺简单、周期短、效率高,且准确度高。其包括底板,所述底板的其中三个角位置分别设置有基准套,模拟块支承于所述底板的上端面,所述模拟块的中部两侧的上表面各自布置有两个上凸的定位凸块,所述两侧的定位凸块关于所述模拟块的中心轴线对称布置,所述定位凸块的上凸高度为3mm,检测状态下右侧B柱的下表面紧贴所述定位凸块的上端面,所述定位凸块的对应侧的底板上分别紧固有压钳支架,所述压钳支架的上部连接有压钳,检测状态下的所述压钳的下端面压装于所述右侧B柱的上表面、且所述压钳位于对应的所述定位凸块的正上方。 | ||
搜索关键词: | 一种 右侧 结构 | ||
【主权项】:
一种右侧B柱的检具结构,其特征在于:其包括底板,所述底板的其中三个角位置分别设置有基准套,模拟块支承于所述底板的上端面,所述模拟块的中部两侧的上表面各自布置有两个上凸的定位凸块,所述两侧的定位凸块关于所述模拟块的中心轴线对称布置,所述定位凸块的上凸高度为3mm,检测状态下右侧B柱的下表面紧贴所述定位凸块的上端面,所述定位凸块的对应侧的底板上分别紧固有压钳支架,所述压钳支架的上部连接有压钳,检测状态下的所述压钳的下端面压装于所述右侧B柱的上表面、且所述压钳位于对应的所述定位凸块的正上方,所述模拟块的前部的一侧、后部的另一侧所对应的底板上紧固有对应的翻板支架,所述翻板支架通过转轴连接所述翻板,所述翻板的上部紧固有卡板,检测状态下的所述卡板的下端面压装于所述右侧B柱的对应位置的上端面,检测状态下的所述右侧B柱的孔槽内分别设置有定位销,所述定位销贯穿所述孔槽后插装于所述模拟块上端面的定位孔内,其还包括间隙通止规,所述间隙通止规的粗端直径为3.3mm、细端直径为2.7mm。
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