[发明专利]一种LED器件光电热集成的测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种LED器件光电热集成的测试系统及方法。本系统包括：计算机(010)、ARM控制电路(020)、光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)以及恒温槽(050)，计算机(010)通过信号线(070)分别与ARM控制电路(020)、瞬态热学测试系统(040)连接，ARM控制电路(020)通过信号线(070)分别与瞬态热学测试系统(040)、光学测试系统(030)连接，恒温槽(050)通过信号线(070)分别与光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)连接。本发明的测试系统能对LED器件的光电学参数和热学参数进行同时测量；而且能利用所测光学参数中的光功率对瞬态热阻测试系统施加在LED器件上的电功率进行校正，以获得LED器件的实际的耗散功率，从而实现LED器件光电热的集成测试，提高对LED器件瞬态热阻测试的精确度。

主权项

一种LED器件光电热集成的测试系统，该系统包括：计算机(010)、ARM控制电路(020)、光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)以及恒温槽(050)，计算机(010)通过信号线(070)分别与ARM控制电路(020)、瞬态热学测试系统(040)连接，ARM控制电路(020)通过信号线(070)分别与瞬态热学测试系统(040)、光学测试系统(030)连接，恒温槽(050)通过信号线(070)分别与光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)连接，其特征在于：上述的计算机(010)，分别用于对所接收或发送来自ARM控制电路(020)和瞬态热学测试系统(040)的数据，进行数据处理，获得恒温槽(050)中待测LED器件(051)的耗散功率，再进行温度冷却曲线测试，通过计算机(010)中软件算法编译获得瞬态热阻值；上述ARM控制电路(020)，分别用于接收或发送来自计算机(010)、光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)的控制信号和测试数据信号；上述光学测试系统(030)，用于测试恒温槽(050)中的待测LED器件(051)光功率参数，将接收的光功率参数发送到ARM控制电路(020)；上述的瞬态热学测试系统(040)，通过信号线(070)分别与计算机(010)、ARM控制电路(020)及恒温槽(050)相连，用于分别接收或发送所测电压信号，实现待测LED器件(051)数据采集； 上述的恒温槽(050)，用于测量待测LED器件(051)。