[发明专利]一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法有效
| 申请号： | 201310562602.1 | 申请日： | 2013-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN103557806A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 时新红;张建宇;山美娟;辛安;赵丽滨 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01B11/22 | 分类号： | G01B11/22 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 孟卜娟 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法，包括以下步骤：（1）进行有机玻璃试件银纹最大深度测量试验的准备工作；（2）调整有机玻璃试件使其处于测定银纹深度的最佳位置；（3）利用工具显微镜测量有机玻璃试件银纹最大深度；（4）记录有机玻璃试件银纹最大深度的测量结果，以作为银纹对有机玻璃力学性能影响研究的基本数据。本发明基于银纹的光学特性，即银纹在光线照射下有银色光泽，而有机玻璃其他部分具有透光性，提出了一种利用工具显微镜进行有机玻璃银纹最大深度测量的方法，可以有效测量有机玻璃中银纹的最大深度，试验操作简便，易于实现，成本低廉，适用于工程应用中有机玻璃银纹最大深度的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 成像 有机玻璃 最大 深度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法，其特征在于包括以下步骤：步骤A：进行有机玻璃试件银纹最大深度测量试验的准备工作；步骤B：调整有机玻璃试件使其处于测定银纹深度的最佳位置；步骤C：利用工具显微镜测量有机玻璃试件银纹最大深度；步骤D：记录有机玻璃试件银纹最大深度的测量结果，以作为银纹对有机玻璃力学性能影响研究的数据。
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