[发明专利]硬质合金粘结相中钨的固溶度的分析检测方法无效

专利信息
申请号: 201310567936.8 申请日: 2013-11-15
公开(公告)号: CN103592323A 公开(公告)日: 2014-02-19
发明(设计)人: 谢晨辉;彭宇;周华堂;谭立群;郭建中 申请(专利权)人: 株洲硬质合金集团有限公司
主分类号: G01N23/22 分类号: G01N23/22
代理公司: 长沙永星专利商标事务所 43001 代理人: 周咏;米中业
地址: 412009 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种硬质合金粘结相中钨的固溶度的分析检测方法,依次包括:制备出待测样品的金相抛光面;采用分离技术将金相抛光面上的硬质相剥离并清除表面杂质及氧化层;采用纯Co粘接相样品优化X射线能谱仪校准设置;选择成分已知的钴基合金样品作为分析标样,根据标样的理论值与实际测试、ZAF基体校正法,求出校正因子并作为标样数据库保存,根据标样的检测结果确定待测样品分析的最佳扫描电镜工作参数;以固溶W5%的钴基合金所建立的数据及相应参数作为X射线能谱定量标准数据库文件,对待测样品不同视场下多次多点测量,其算术平均值即为待测样品粘结相中固溶钨的含量;本发明不仅实现了硬质合金粘结相中钨的固溶度分析检测且准确度高。
搜索关键词: 硬质合金 粘结 相中 固溶度 分析 检测 方法
【主权项】:
一种硬质合金粘结相中钨的固溶度分析检测方法,依次包括以下步骤:(一)将待测硬质合金样品制备出一个具有光滑平整的金相抛光面;(二)采用硬质相与粘接相化学分离技术将金相抛光面上的硬质相剥离,并清除样品表面杂质及氧化层,制备好金相抛光面上已剥离硬质相的待测样品;(三)采用纯Co粘接相标准样品优化X射线能谱仪校准设置,同时进行保存;(四)选择成分已知的质量百分比为5% W+95% Co的钴基合金样品作为X射线能谱定量分析标准样品,根据标准样品的理论值与实际测试结果,采用ZAF基体校正法,求出校正因子,并作为定量标样数据库文件保存,根据标准样品的检测结果确定待测样品分析的最佳扫描电镜工作参数;(五)采用X射线能谱定量分析技术,以固溶W的质量百分比为5%的钴基合金所建立的数据及相应参数作为能谱定量标准数据库文件,对待测样品在不同视场下多次多点进行测量;取其算数平均值,从而得出待测样品粘结相中固溶钨的含量。
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