[发明专利]X射线成像设备和控制所述设备的方法无效
| 申请号： | 201310573610.6 | 申请日： | 2013-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN103908273A | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 金圣洙;吴炫和;姜东求;姜声训;成映勋;李刚仪;韩锡旼 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王秀君;薛义丹 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 这里公开了一种X射线成像设备和控制所述设备的方法，所述设备和方法估计X射线检测器的能量响应特性并基于估计的响应特性校正X射线数据的失真。所述X射线成像设备包括：X射线产生器，产生和发射X射线；X射线检测器，检测发射的X射线并获得X射线数据；控制器，将X射线数据转换为X射线特性坐标，并从测量数据和参考数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 设备 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线成像设备，包括：X射线产生器，产生和发射X射线；X射线检测器，检测发射的X射线并获得X射线数据；控制器，将通过X射线检测器检测X射线获得的测量数据和通过仿真获得的参考数据转换为作为预定空间上的坐标的X射线特性坐标，并从参考数据和测量数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。
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