[发明专利]一种测定取向硅钢取向度的方法有效

专利信息
申请号: 201310576260.9 申请日: 2013-11-18
公开(公告)号: CN103558239A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 李长一;石文敏;郭小龙;方泽民;黎世德;毛炯辉;杨佳欣 申请(专利权)人: 武汉钢铁(集团)公司
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 王和平;陈懿
地址: 430080 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种测定取向硅钢取向度的方法,包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条,将多个长方形窄条叠摞成组合试样,所述组合试样的待测面由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X-射线衍射仪测量待测面晶粒的的晶轴密度;步骤三、将测得的待测面晶粒的的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样(2)的取向度:G=P001/∑Puvw,其中,G是组合试样的取向度,P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它晶粒的晶轴密度。相对于现有技术,本发明具有统计学意义上的优势,同时工作效率大为提高,可以广泛应用于取向硅钢的生产和研究领域。
搜索关键词: 一种 测定 取向 硅钢 方法
【主权项】:
一种测定取向硅钢取向度的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条(1),将多个长方形窄条(1)叠摞成组合试样(2),所述组合试样(2)的待测面(2.1)由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X‑射线衍射仪测量待测面(2.1)晶粒的的晶轴密度;步骤三、将测得的待测面(2.1)晶粒的的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样(2)的取向度:G=P001/∑Puvw,其中,G是组合试样(2)的取向度,P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它晶粒的晶轴密度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉钢铁(集团)公司,未经武汉钢铁(集团)公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310576260.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top