[发明专利]一种测定取向硅钢取向度的方法有效
申请号: | 201310576260.9 | 申请日: | 2013-11-18 |
公开(公告)号: | CN103558239A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 李长一;石文敏;郭小龙;方泽民;黎世德;毛炯辉;杨佳欣 | 申请(专利权)人: | 武汉钢铁(集团)公司 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 王和平;陈懿 |
地址: | 430080 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: |
本发明公开了一种测定取向硅钢取向度的方法,包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条,将多个长方形窄条叠摞成组合试样,所述组合试样的待测面由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X-射线衍射仪测量待测面晶粒的 |
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搜索关键词: | 一种 测定 取向 硅钢 方法 | ||
【主权项】:
一种测定取向硅钢取向度的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条(1),将多个长方形窄条(1)叠摞成组合试样(2),所述组合试样(2)的待测面(2.1)由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X‑射线衍射仪测量待测面(2.1)晶粒的的晶轴密度;步骤三、将测得的待测面(2.1)晶粒的的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样(2)的取向度:G=P001/∑Puvw,其中,G是组合试样(2)的取向度,P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它晶粒的晶轴密度。
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