[发明专利]一种交流大电流冲击测试装置和测试方法有效
申请号: | 201310576717.6 | 申请日: | 2013-11-16 |
公开(公告)号: | CN103630775A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 张志丰;孙强;刘大千;邱清泉;肖立业;戴少涛;张国民 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 种交流大电流冲击测试装置,包括调压器(Uac)、超导磁体电源(Udc)、调压变压器(Tr1)、变压器(Tr2)、断路器(SW1)、第一单刀双掷开关(S1)、第二单刀双掷开关(S2)、第一电流传感器(A1)、第二电流传感器(A2)、电压传感器(V1)、第一晶闸管组(G1)、第二晶闸管组(G2)和电阻(R)。采用本发测试装置的交流大电流冲击测试方法在控制冲击电流大小、冲击时间和初始相位角的情况下,实现对超导带材和磁体的交流大电流冲击,同时,配合了超导带材和磁体的临界电流测试,简化了测试流程,使测试过程更加合理,节约了测试时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 交流 电流 冲击 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的测试装置包括交流电源(Uac)、超导磁体电源(Udc)、调压变压器(Tr1)、变压器(Tr2)、断路器(SW1)、第一单刀双掷开关(S1)、第二单刀双掷开关(S2)、第一电流传感器(A1)、第二电流传感器(A2)、电压传感器(V1)、第一晶闸管组(G1)、第二晶闸管组(G2)和电阻(R);交流电源(Uac)连接在调压变压器(Tr1)的原边线圈(L11)上,调压变压器(Tr1)的副边线圈(L12)与断路器(SW1)串联后连接在变压器(Tr2)的原边线圈(L21)上,变压器(Tr2)的副边线圈(L22)的第一连接点(a)与第二晶闸管组(G2)和第一电流传感器(A1)串联电路的一端相连,第二晶闸管组(G2)和第一电流传感器(A1)串联电路的另一端连接在第一单刀双掷开关(S1)的第二连接点(11);变压器(Tr2)的副边线圈(L22)的第二连接点(b)与电阻(R)和第一晶闸管组(G1)的并联电路的一端相连,电阻(R)和第一晶闸管组(G1)的并联电路的另一端连接在第二单刀双掷开关(S2)的第二连接点(21);第一单刀双掷开关(S1)的第一连接点(10)与第一测试点(P1)相连,第二单刀双掷开关(S2)的第一连接点(20)与第二测试点(P2)相连,电压传感器(V1)并联在第一测试点(P1)和第二测试点(P2)之间,第二电流传感器(A2)和超导磁体电源(Udc)的串联电路连接在第一单刀双掷开关(S1)的第三连接点(12)和第二单刀双掷开关(S2)的第三连接点(22)之间。
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