[发明专利]TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置有效
| 申请号： | 201310582815.0 | 申请日： | 2013-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN103633997A | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 黄武;陶长亚;周建烨 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | H03L7/07 | 分类号： | H03L7/07;H03L7/18 |
| 代理公司： | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人： | 梁军 |
| 地址： | 233010 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 发明公开了一种TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置。其中装置包括：取样环、取样器模块、直接数字合成模块、本振发生模块、参考分配电路；其中，取样环，用于为取样器提供207MHz～236MHz的取样本振信号，对输入射频频率进行取样；取样器模块，为取样环和本振发生模块的中间结合模块，用于执行频率取样，频谱搬移；直接数字合成模块，用于实现整个本振的频率分辨率，执行小数分频；本振发生模块，选用经济型宽带VCO，覆盖5.0GHz～10.0GHz频段；参考分配电路，用于通过各种分频和倍频电路，给频率合成的各个模块提供频率参考。解决相关技术中综测仪的频段、分辨率和频率合成输出频率较低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | td lte advanced 综测仪中合 成本 装置 | ||
【主权项】：
一种TD‑LTE‑Advanced综测仪中合成本振装置，其特征在于，所述装置包括：取样环、取样器模块、直接数字合成模块、本振发生模块、参考分配电路；其中，所述取样环，用于为取样器提供207MHz～236MHz的取样本振信号，对输入射频频率进行取样；所述取样器模块，为所述取样环和所述本振发生模块的中间结合模块，用于执行频率取样，频谱搬移；所述直接数字合成模块，用于实现整个本振的频率分辨率，执行小数分频；所述本振发生模块，选用经济型宽带VCO，覆盖5.0GHz～10.0GHz频段；其中，所述本振发生模块输出频率的指标建立在多环拟合的基础上，其100Hz～1kHz之间的相噪指标由参考晶体保证，1kHz～3kHz之间的相噪指标由所述直接数字合成模块保证，3kHz～10kHz之间的相噪指标由所述取样环保证，100kHz以远的相噪指标由VCO远端保证；所述参考分配电路，用于通过各种分频和倍频电路，给频率合成的各个模块提供频率参考。
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