[发明专利]一种测试激光倍频晶体性质的装置和方法在审
| 申请号： | 201310585062.9 | 申请日： | 2013-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN104655592A | 公开（公告）日： | 2015-05-27 |
| 发明（设计）人： | 刘春雷;雷同光;金攀;王瑞臣;郝建磊 | 申请（专利权）人： | 有研光电新材料有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 刘秀青 |
| 地址： | 065001 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 一种测试激光倍频晶体性质的装置和方法，该装置包括依次设置的激光光源、入射激光光路、载物台、二次谐波激光光路、针孔、入射光滤色片和光电倍增管。测试时，利用激光倍频晶体具有对入射激光进行倍频的性质，采用激光对激光倍频晶体进行照射，产生入射激光的二次谐波，用光电倍增管对出射的二次谐波进行接收，得到二次谐波的光强度，用该装置对激光倍频晶体不同区域进行照射，得到不同区域的二次谐波强度，通过分析不同区域产生二次谐波的强度，可对激光倍频晶体的结构和性质进行判断，无须对晶体进行破坏，就能分析出其内部结构，实现了对激光倍频晶体质量的无损探测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 激光 倍频 晶体 性质 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试激光倍频晶体性质的装置，其特征在于：它包括依次设置的激光光源、入射激光光路、载物台、二次谐波激光光路、针孔、入射光滤色片和光电倍增管；该入射激光光路包括平行放置的第一凸透镜和第二凸透镜；该二次谐波激光光路包括平行放置的第三凸透镜和第四凸透镜；该激光光源位于该第一凸透镜的外侧焦点处；该针孔位于该第四凸透镜的外侧焦点处；用于放置待测激光倍频晶体的载物台位于该第二凸透镜及该第三凸透镜的焦点重合处。
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