[发明专利]一种适用于FPGA的可靠性评估方法和装置有效
申请号: | 201310594897.0 | 申请日: | 2013-11-22 |
公开(公告)号: | CN103646129B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 黄柯衡;叶靖;胡瑜;李晓维 | 申请(专利权)人: | 中国科学院计算技术研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种适用于FPGA的可靠性评估方法和装置,包括对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的敏化输入向量的集合,所述敏化输入向量是可激活所述待评估的线路故障的输入向量,所述线路故障为线路上的固定v故障,v为逻辑值。进一步地,所述可靠性评估方法还可以包括对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的失效输入向量的集合,所述失效输入向量是故障能够传播到电路输出,造成错误输出逻辑值的输入向量。其中,采用逻辑值X代表0或1,精简输入向量。本发明能够快速准确地得出FPGA中各种线路故障被激活的概率。进一步地,本发明能够快速准确地得出FPGA中各种线路故障的故障传播概率,进而快速准确地对FPGA电路进行可靠性评估。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 fpga 可靠性 评估 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种适用于FPGA的可靠性评估方法,包括下列步骤:1)对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的敏化输入向量的集合,所述敏化输入向量是可激活所述待评估的线路故障的输入向量,所述线路故障为线路上的固定v故障,v为逻辑值;2)根据所述步骤1)获得的各待评估的线路故障所对应的敏化输入向量的集合评估FPGA的可靠性;对于每个待评估的线路故障,基于代表FPGA电路中各逻辑单元的查找表,在步骤1)得到的敏化输入向量的集合中识别出失效输入向量的集合,所述失效输入向量是在所述线路故障时,会导致FPGA电路的输出逻辑值错误的输入向量;其中,所述步骤1)包括下列子步骤:11)首先获取输入线路故障所对应的敏化输入向量的集合;用精简敏化向量表示敏化输入向量的集合,所述精简敏化向量由1、0、X组成,其中X表示相应位的逻辑值既可为0也可为1;12)基于步骤11)所得的输入线路故障的精简敏化向量,以及代表FPGA电路中各逻辑单元的查找表,通过精简敏化向量的逻辑计算,自电路输入级向电路输出级推导其它线路故障的精简敏化向量;所述步骤2)包括下列子步骤:21)针对输出线路故障,根据其精简敏化向量获得其失效输入向量的集合;所述失效输入向量的集合用精简失效向量表示,所述精简失效向量由1、0、X组成,其中X表示相应位的逻辑值既可为0也可为1;22)基于步骤21)所得的输出线路故障的精简失效向量,以及步骤1)所得的各线路故障的精简敏化向量,以及代表FPGA电路中各逻辑单元的查找表,自电路输出级向电路输入级推导其它线路故障的精简失效向量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院计算技术研究所,未经中国科学院计算技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310594897.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。