[发明专利]放射源定位方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201310602906.6 | 申请日： | 2013-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN103645491A | 公开（公告）日： | 2014-03-19 |
| 发明（设计）人： | 魏龙;张译文;李道武;章志明;王宝义;帅磊;王英杰;朱美玲;孙世峰;张玉包;唐浩辉;黄先超;柴培;李婷;庄凯;姜小盼;刘彦韬;周魏;曾凡剑 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00;G01T1/18 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮 |
| 地址： | 100049 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种放射源定位方法、装置及系统。该方法包括：根据模拟数据获取探测器的晶体阵列中晶体计数比与放射源角度的关系；测量待测放射源放射射线时所述晶体阵列的实测晶体计数；在计数噪声的变化范围内，根据所述实测晶体计数以及各所述计数噪声获取多个去噪晶体计数比，根据所述晶体计数比与放射源角度的关系获取与各所述去噪晶体计数比相对应的各实测放射源角度，并选取计数噪声最优时的实测放射源角度为所述待测放射源的放射源角度。该装置包括：处理模块、测量模块和计算模块。该系统包括：放射源定位装置、待测放射源和探测器。本发明采用晶体计数比作为计算参数，采用有效的扣除噪声技术，提高了放射源定位的灵敏度和准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 放射源 定位 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种放射源定位方法，其特征在于，包括：步骤S1、根据模拟数据获取探测器的晶体阵列中晶体计数比与放射源角度的关系；步骤S2、测量待测放射源放射射线时所述晶体阵列的实测晶体计数；步骤S3、在计数噪声的变化范围内，根据所述实测晶体计数以及各所述计数噪声获取多个去噪晶体计数比，根据所述晶体计数比与放射源角度的关系获取与各所述去噪晶体计数比相对应的各实测放射源角度，并选取所述计数噪声最优时的实测放射源角度为所述待测放射源的放射源角度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所，未经中国科学院高能物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310602906.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
