[发明专利]一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法有效
申请号: | 201310611442.5 | 申请日: | 2013-11-26 |
公开(公告)号: | CN103675733A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 刘朝阳;宋侃;鲍庆嘉;陈黎;刘造 | 申请(专利权)人: | 中国科学院武汉物理与数学研究所 |
主分类号: | G01R33/3875 | 分类号: | G01R33/3875 |
代理公司: | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人: | 李鹏;王敏锋 |
地址: | 430071 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法,采用梯度回波脉冲序列测量空间磁场的不均匀像,并以此拟合表征当前磁场均匀性的虚拟谱图线形及其相关性能指标;根据匀场线圈所构建的多维空间向量,将虚拟谱图线形的相关性能指标作为得到的磁场均匀性好坏的评价标准,依据此评价标准进行多维下降单纯形法迭代搜索,并最终返回最优匀场电流。本发明在匀场过程中能充分考虑频谱的半高宽和对称性等性能指标;同时,和常规的采用梯度回波成像技术的梯度匀场相比,本匀场技术不必考虑匀场线圈场图的测量和拟合,降低了通过梯度成像来匀场的难度和限定要求;自动拟合搜索步径和收敛条件摆脱了繁琐的手动设置、提高了匀场的速度和效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 不均匀 磁场 拟合 线形 自动 搜索 方法 | ||
【主权项】:
一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、选择匀场线圈组:选择需要进行室温匀场的匀场线圈组;步骤2、拟合匀场线圈的搜索步径和收敛条件:利用谱图吸收线形的二次矩大小I和匀场线圈的电流增量x的二次函数关系I=Ax2+Bx+C,其中A、B、C为二次函数系数,拟合各匀场线圈的搜索步径dj和收敛条件rj;步骤3、拟合表征当前磁场不均匀性的频谱图及线形指标:利用梯度回波技术获得不均匀磁场的图像数据,根据该图像数据拟合出表征当前磁场不均匀性的吸收线形谱图F,即虚拟线形,并最终计算出该虚拟线形的相关性能指标Crit;步骤4、采用多维下降单纯形法迭代搜索:利用N个匀场线圈构建N维空间[X1,X2,...,XN],将谱图吸收线形的相关性能指标Crit作为得到的磁场均匀性好坏的评价标准Q,并利用Crit越小则磁场越均匀的性质进行空间点的多维下降单纯形法迭代搜索;步骤5、迭代结束返回匀场电流:多维下降单纯形法迭代结束,最终得到最大评价值Q并返回最优匀场电流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院武汉物理与数学研究所,未经中国科学院武汉物理与数学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310611442.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:产生磁化率加权图像的方法
- 下一篇:非周期阵列天线设计方法