[发明专利]一种利用太赫兹光谱信号提取材料光学常数的方法

摘要

本发明属于光电子学与材料学应用技术领域，具体涉及一种利用太赫兹光谱信号提取材料光学常数的方法，包括以下步骤：步骤一，太赫兹波垂直入射到放置于空气中厚度为l的平板样品中，根据Fabry-Perot腔模型获得样品信号和参考信号太赫兹频谱的理论比值A(ω)；步骤二，利用模拟退火优化算法获得样品信号和参考信号太赫兹频谱理论比值A(ω)和实验比值Ameas(ω)之间的全局最小值，获得最小值处对应的实折射率n(ω))和消光系数κ(ω)。该方法采用精确公式结合模拟退火优化算法提取材料光学常数，可以取消弱吸收近似和材料边界约束条件，适用于不同厚度的材料，采用该方法提取的材料光学常数精确度较高。

主权项

一种利用太赫兹光谱信号提取材料光学常数的方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一，太赫兹波垂直入射到放置于空气中厚度为l的平板样品中，根据Fabry‑Perot腔模型获得样品信号和参考信号太赫兹频谱的理论比值A(ω)；具体为： A ( ω ) = 4 n ~ 2 ( ω ) ( n ~ ( ω ) + 1 ) 2 exp [ - j

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