[发明专利]用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法有效
| 申请号： | 201310618504.5 | 申请日： | 2013-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN103605102A | 公开（公告）日： | 2014-02-26 |
| 发明（设计）人： | 吴红森;袁岩兴;刘星汛;冯英强;黄建领 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张文祎 |
| 地址： | 100854 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，包括如下步骤：测量得到参考天线的天线系数；测量得到电磁波信号的功率的第一标准值；测量得到电磁波信号的功率的第一测量值；计算第一标准值与第一测量值的差值得到参考天线与传递天线之间的插入损耗；测量得到电磁波信号的功率的第二标准值；测量得到电磁波信号的功率的第二测量值；计算第二标准值与第二测量值的差值得到待校准天线与传递天线之间的插入损耗；由参考天线的天线系数、参考天线与传递天线之间的插入损耗、以及待校准天线与传递天线之间的插入损耗计算得到待校准天线的天线系数。所述现场校准方法适用于30MHz-1GHz频段的辐射发射测量天线的校准。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电磁 兼容 试验 辐射 发射 测量 天线 现场 校准 方法 | ||
【主权项】：
用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，其特征在于，该现场校准方法包括如下步骤：在校准试验室内，利用现有技术的校准方法测量得到参考天线(3)的天线系数；在校准试验室内，通过直通连接器(8)将第一衰减器(2)与第二衰减器(5)电连接；在校准试验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，并通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第一标准值；在校准试验室内，通过同轴电缆将参考天线(3)与第一衰减器(2)电连接，且通过同轴电缆将传递天线(4)与第二衰减器(5)电连接；在校准试验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，且信号源(1)的输出功率与其测量所述第一标准值时的输出功率相同，通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第一测量值；计算电磁波信号的功率的所述第一标准值与其所述第一测量值的差值得到参考天线(3)与传递天线(4)之间的插入损耗；在电磁兼容实验室内，通过直通连接器(8)将第一衰减器(2)与第二衰减器(5)电连接；在电磁兼容实验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，并通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第二标准值；在电磁兼容实验室内，将待校准天线(9)通过同轴电缆与第一衰减器(2)电连接，且将传递天线(4)通过同轴电缆与第二衰减器(5)电连接；在电磁兼容实验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，且信号源(1)的输出功率与其在测量所述第二标准值时的输出功率相同，并通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第二测量值；计算电磁波信号的功率的所述第二标准值与所述第二测量值的差值得到待校准天线(9)与传递天线(4)之间的插入损耗；由参考天线(3)的天线系数、参考天线(3)与传递天线(4)之间的插入损耗、 以及待校准天线(9)与传递天线(4)之间的插入损耗计算得到待校准天线(9)的天线系数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所，未经北京无线电计量测试研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310618504.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
