[发明专利]一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法在审
申请号: | 201310625155.X | 申请日: | 2013-11-28 |
公开(公告)号: | CN103604984A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 邱耀明;陈公仆;吴旭亮;杨双俊 | 申请(专利权)人: | 湖北三江航天红峰控制有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 朱仁玲 |
地址: | 432000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于AD采集技术领域,公开了一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法,包括下述步骤:S1按照通信协议进行数据通信,发送采集命令并接收采集数据;S2采用最小二乘法对AD采集数据进行线性拟合,获得零位偏差和修正斜率值,并保存各个AD通道的零位偏差和修正斜率值;S3根据标定所需要的标准采样电压值以及各个AD通道的零位偏差和修正斜率值分别对多路AD通道的零偏和系数进行标定。本发明利用最小二乘法对AD采集数据进行修正补偿,计算AD采集的线性斜率以及零偏,可提高AD采集精度;同时采用滤波方法对采集电压值进行滤波处理,可以很好地消除毛刺,避免干扰,提高标定精度。另外还可以同时对多通道AD芯片进行电压修偏。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 最小二乘法 提高 ad 采集 精度 方法 | ||
【主权项】:
一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法,其特征在于,包括下述步骤:S1:按照通信协议进行数据通信,发送采集命令并接收AD采集数据;S2:采用最小二乘法对AD采集数据进行线性拟合,获得零位偏差和修正斜率值,并保存各个AD通道的零位偏差和修正斜率值;S3:根据标定所需要的标准采样电压值以及各个AD通道的零位偏差和修正斜率值分别对多路AD通道的零偏和系数进行标定。
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