[发明专利]N型硅片的硼扩散方法、晶体硅太阳能电池及其制作方法有效
申请号: | 201310627344.0 | 申请日: | 2013-11-29 |
公开(公告)号: | CN103632934B | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
发明(设计)人: | 袁广锋;何广川;陈艳涛;李雪涛 | 申请(专利权)人: | 英利集团有限公司 |
主分类号: | H01L21/22 | 分类号: | H01L21/22;H01L31/18;H01L31/068 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 吴贵明,张永明 |
地址: | 071051 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种N型硅片的硼扩散方法、晶体硅太阳能电池及其制作方法。硼扩散方法包括以下步骤沉积阶段,将湿法刻蚀后的硅片放入扩散炉内升温至预定沉积温度,并通入硼源、氧气和氮气使其在硅片表面进行沉积;推进扩散阶段,将表面沉积后的硅片升温至预定扩散温度,推进扩散,并在升温和推进扩散的过程中通入氧气和氮气;以及后氧化阶段,将扩散后的硅片降温,并在降温的过程中通入氧气和氮气。该沉积扩散工艺降低了硅片表面的硼原子浓度,减小了表面的复合速率和晶格损伤,将方阻标准差(STDEV)控制在2.0左右,改善了硼扩散方阻均匀性,提高了电池转换效率,也降低了硼源耗量,避免了生成过多硼硅玻璃(BGS),节约了成本。 | ||
搜索关键词: | 硅片 扩散 方法 晶体 太阳能电池 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种N型硅片的硼扩散方法,其特征在于,包括以下步骤:沉积阶段,将湿法刻蚀后的硅片放入扩散炉内升温至预定沉积温度,并通入硼源、氧气和氮气使其在所述硅片表面进行沉积,在所述沉积阶段,所述沉积的温度为890℃~940℃,所述沉积的时间为15~40分钟,所述氮气的流量为22~24slm,所述氧气的流量为30sccm~320sccm,所述硼源的流量为120sccm~1000sccm;推进扩散阶段,停止通入氧气和硼源,继续通入氮气,同时将表面沉积后的所述硅片升温至预定扩散温度,推进扩散,以5~15℃/分钟将表面沉积后的所述硅片升温至950℃~1000℃,恒温扩散20~30分钟;以及后氧化阶段,将扩散后的所述硅片降温,并在所述降温的过程中通入所述氧气和所述氮气,在所述后氧化阶段,所述氧气的流量为10~20slm,所述氮气的流量为5slm~10slm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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