[发明专利]半导体装置

摘要

本发明涉及半导体装置。如果作为信号延迟检测电路的组件的异或电路本身已经未能正确地操作，则不能准确地检测到信号延迟。故障预先检测电路12包括用于使与设置在触发器FF0的后续级中的触发器FF1的数据输入端子并行输入的输入数据延迟的延迟电路DL、接收延迟电路DL的输出的触发器FFT、以及将触发器FF1的输出与触发器FFT的输出进行比较的比较器CMP。在用于测试故障预先检测电路12的操作的操作测试模式中将测试数据tv1和测试数据tv2输入到故障预先检测电路12。测试数据tv2被输入到延迟电路DL。在操作测试模式中比较器CMP将测试数据tv1和触发器FFT的输出进行比较。

主权项

一种半导体装置，包括：第一触发器；第二触发器，被设置在第一触发器的后续级中；以及故障预先检测电路，被设置在从到第二触发器的数据输入端子的路线分岔出来的路线上，所述故障预先检测电路包括：延迟元件，用于使与第二触发器的数据输入端子并行输入的输入数据延迟；第三触发器，用于接收延迟元件的输出；以及比较器，用于将第二触发器的输出与第三触发器的输出进行比较，其中在用于测试所述故障预先检测电路的操作的操作测试模式中，第一测试数据和第二测试数据被输入到所述故障预先检测电路，并且第二测试数据被输入到延迟元件，其中在所述操作测试模式中比较器将第一测试数据和第三触发器的输出进行比较，以及其中所述故障预先检测电路还包括：第一选择器，在所述操作测试模式中将所述第二测试数据输出到延迟元件，并且在通常操作模式中将所述输入数据输出到延迟元件；和第二选择器，在所述操作测试模式中将所述第一测试数据输出到比较器，并且在通常操作模式中将第二触发器的输出输出到比较器。