[发明专利]数控机床几何精度辨识方法在审

专利信息
申请号: 201310637679.0 申请日: 2013-11-29
公开(公告)号: CN103791878A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 田文杰;潘琪;张大卫;常文芬;聂应新;郭龙真 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李素兰
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种数控机床几何精度辨识方法,基于九线误差辨识法,包括以下步骤:步骤(1)建立误差辨识模型;步骤(2)误差检测与误差源辨识,对滚转角误差进行修正,得到在机床坐标系下度量的滚转角误差;步骤(3)进行计算机仿真,首分别求解传统九线法与改进九线法得到的误差源辨识结果,多次重复上述过程,分析两种方法所得结果的统计特征,并比较两者的差别。与现有技术相比,本发明提高了误差辨识结果的稳定性,并实现运动副制造安装误差的溯源。针对传统九线法滚转角误差辨识中存在原理性偏差的问题,提出一种实验修正方法,提高滚转角误差的辨识精度。
搜索关键词: 数控机床 几何 精度 辨识 方法
【主权项】:
1.一种数控机床几何精度辨识方法,基于九线误差辨识法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤(1)、建立误差辨识模型,即计算得到测量点P1在坐标xj位置处的9个误差辨识方程矩阵:δ(xj)ϵ(xj)=I3-[rP1×]I3-[rP2×]...I3-[rPi×]+ΔrP1(xj)ΔrP2(xj)...ΔrPi(xj)]]>δ(yj)ϵ(yj)=I3-[rP1×]I3-[rP2×]...I3-[rPi×]+ΔrP1(yj)ΔrP2(yj)...ΔrPi(yj)]]>δ(zj)ϵ(zj)=I3-[rP1×]I3-[rP2×]...I3-[rPi×]+ΔrP1(zj)ΔrP2(zj)...ΔrPi(zj)]]>式中,εx(xj)该测量点所在位置滚转角误差;为点Pi在位置j处的位置误差向量;为位置矢量的反对称矩阵,分别对应x,y,z三个坐标轴;为位置矢量的反对称矩阵,且有:ΔrPi(xj)=ΔxPi(xj)ΔyPi(xj)ΔzPi(xj),[rPi×]=0-ZiYiZi0-Xi-YiXi0]]>ΔrPi(yj)=ΔxPi(yj)ΔyPi(yj)ΔzPi(yj),[rPi×]=0-ZiXiZi0-Yi-XiYi0]]>ΔrPi(zj)=ΔxPi(zj)ΔyPi(zj)ΔzPi(zj),[rPi×]=0-YiXiYi0-Zi-XiZi0;]]>步骤(2)、误差检测与误差源辨识,具体包括以下操作:选取测量方案,利用激光干涉仪检测各测量线上的位置误差,将检测结果代入步骤(1)中所述方程,辨识运动部件的6维位姿误差;修正滚转角偏差,其具体测量方法为:(1)在主轴箱上同时或分别固定两块千分表,并将测杆与工作台面接触;(2)当工作台分别运动至xa、xb位置时,其中1≤a<b≤n,记录千分表读数Δz′i(xa)、Δz′i(xb),其中i=1,2表示千分表序号;(3)在四个测量点处根据式(5)分别得到4个Z向误差方程式Δz1(xa)=δz(xa)-X1aϵy(xa)+Y1aϵx*(xa)Δz1(xb)=δz(xb)-X1bϵy(xb)+Y1bϵx*(xb)Δz2(xa)=δz(xa)-X2aϵy(xa)+Y2aϵx*(xa)Δz2(xb)=δz(xb)-X2bϵy(xb)+Y2bϵx*(xb)]]>由于工作台面与X轴的不平行以及千分表测量基准与式(10)不同,导致千分表测量值与式(10)中等号左侧的理论值并不对等。为解决这一问题,采用如式(11)所示的作差处理,建立两者的联系:[Δz1(xb)-Δz1(xa)]-[Δz2(xb)-Δz2(xa)]=[Δz′1(xb)-Δz′1(xa)]-[Δz′2(xb)-Δz′2(xa)]   (11)rPi=(XiYiZi)T,i=1,2,3---(4)]]>Δz1(xa)=δz(xa)-X1aϵy(xa)+Y1aϵx*(xa)Δz1(xb)=δz(xb)-X1bϵy(xb)+Y1bϵx*(xb)Δz2(xa)=δz(xa)-X2aϵy(xa)+Y2aϵx*(xa)Δz2(xb)=δz(xb)-X2bϵy(xb)+Y2bϵx*(xb)---(10)]]>将式(4)、式(10)代入式(11),即可求得偏差系数K,而后利用K值对九线法辨识出的滚转角误差进行修正,得到在机床坐标系下度量的滚转角误差;步骤(3)、进行计算机仿真,首先给定当机床运动至坐标x时拖板的6项几何误差值,利用误差映射模型得到测量点Pi(i=1,2,3)理想的空间位置误差,在理想值上线性叠加一个高斯噪声作为实际测量结果的模拟值,而后分别求解传统九线法与改进九线法得到的误差源辨识结果,多次重复上述过程,分析两种方法所得结果的统计特征,并比较两者的差别。
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