[发明专利]时钟延迟检测电路及利用时钟延迟检测电路的半导体装置有效
| 申请号： | 201310645967.0 | 申请日： | 2013-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN104283556B | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 徐荣锡 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | H03L7/18 | 分类号： | H03L7/18 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 俞波;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种时钟延迟检测电路以及利用时钟延迟检测电路的半导体装置，时钟延迟检测电路能产生周期是时钟的延迟时间的周期信号、划分周期信号以及对划分的周期信号计数。时钟延迟检测电路包括：周期信号发生单元，被配置成产生计数控制信号；周期信号划分单元，被配置成通过划分计数控制信号来产生计数使能信号；以及计数单元，被配置成通过用时钟对计数使能信号计数来产生延迟信息信号，其中，计数控制信号具有预定时间的周期。 | ||
| 搜索关键词： | 时钟 延迟 检测 电路 利用 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，包括：延迟锁定环单元，所述延迟锁定环单元被配置成延迟输入时钟并且产生延迟时钟；计数控制单元，所述计数控制单元被配置成基于计数开始信号和延迟命令信号而产生计数控制信号、以及基于所述计数控制信号而产生计数使能信号，所述计数使能信号被使能持续时间，所述持续时间比第一延迟时间和第二延迟时间之和更长；命令延迟线，所述命令延迟线被配置成将所述计数控制信号延迟所述第一延迟时间并且产生所述延迟命令信号；计数单元，所述计数单元被配置成通过用所述延迟时钟对所述计数使能信号计数来产生延迟信息信号；以及输出控制单元，所述输出控制单元被配置成基于所述延迟信息信号和等待时间而通过延迟所述延迟命令信号来产生输出控制信号。
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