[发明专利]基于JDL 模型的液晶显示屏透光度快速检测方法

摘要

本发明公开了一种基于JDL模型的液晶显示屏透光度快速检测方法，其特征在于包括如下步骤：控制透光率测试仪发射多种光照射在液晶显示屏上，通过数据采集处理单元采集多种光照射液晶显示屏后的透光率，同时数据采集处理单元将多种光的透光率数据进行过滤处理，然后将处理后的数据发送给透光度快速评估单元；然后透光度快速评估单元采用JDL模型融合方法对上述数据进行透光度快速评估；最后透光度快速评估单元将透光度快速评估结果发给检测监控中心计算机，由计算机中心处理单元进行下一步处理。该方法还具有：使用方便、处理速度、技术实现容易等特点适于广泛推广。

主权项

一种基于JDL模型的液晶显示屏透光度快速检测方法，其特征在于包括如下步骤：1）控制透光率测试仪发射多种光照射在液晶显示屏上，通过数据采集处理单元采集多种光照射液晶显示屏后的透光率，同时数据采集处理单元将多种光的透光率数据进行过滤处理，然后将处理后的数据发送给透光度快速评估单元；2）透光度快速评估单元对数据采集处理单元发送回来的多种光的透光率数据进行分类和整合，转换为适于JDL模型融合方法计算的数据阵列；3）然后透光度快速评估单元采用JDL模型融合方法对上述数据进行透光度快速评估，具体处理过程包括：第1级为目标优化、定位和识别目标；第2级处理为态势评估，根据第1级处理提供的信息构建态势图；第3级处理为威胁评估，根据可能采取的行动来解释第2级处理结果,并分析采取各种行动的优缺点；4）最后透光度快速评估单元将透光度快速评估结果发给检测监控中心计算机，由计算机中心处理单元进行下一步处理。