[发明专利]一种薄膜取向特性检测装置及其应用

摘要

本发明涉及薄膜取向特性检测装置，特别是将薄膜拉伸程度与薄膜取向程度通过本发明装置进行对比检测以了解薄膜拉伸状态与薄膜取向特性之间的关系，从而为材料表征及与薄膜取向特性相关功能器件的设计提供基础。该装置由用于固定薄膜的薄膜固定组件（3）、用于测量薄膜长度的长度测量组件（2）及承载上述组件使得薄膜能够位于光谱通路的支架（1）组成；本发明首次将薄膜拉伸程度与薄膜取向特性检测功能统合至一个装置上，从而可以同时检测薄膜拉伸程度及薄膜取向特性，因此不仅可以减少操作误差、不同薄膜间的差异引入的误差，而且使得其能够适用于一些薄且强度较弱的薄膜的拉伸程度与取向特性的检测，因此有助于功能取向薄膜的进一步开发与应用。

主权项

一种薄膜取向特性检测装置，其特征在于该装置由用于固定薄膜的薄膜固定组件（3）、用于测量薄膜长度的长度测量组件（2）及承载上述组件使得薄膜能够位于光谱通路的支架（1）组成；其中，支架（1）中的底座（1a）位于该装置的最底部，量具及薄膜固定平台（1b）通过平台固定螺丝（1c）固定在支架（1）；薄膜固定组件（3）中的固定端（3b）位于薄膜固定平台（1b）上，移动端（3a）位于固定端（3b）的上方，测试薄膜（3c）位于移动端（3a）与固定端（3b）之间；长度测量组件（2）中的主尺（2a）竖直固定在薄膜固定平台（1b）上，副尺（2b）由副尺固定螺丝（2c）固定在主尺（2a）的侧面，副尺（2b）的外端与移动端（3a）连接。