[发明专利]石蜡温度-光学特性检测系统在审

专利信息
申请号: 201310665478.1 申请日: 2013-12-06
公开(公告)号: CN104697957A 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 刘新涛;姜维喜;陈剑英;卞福香;穆道旭 申请(专利权)人: 大连隆星新材料有限公司
主分类号: G01N21/49 分类号: G01N21/49;B07C5/342
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 曲永祚
地址: 116000 辽宁省大*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种石蜡温度-光学特性检测系统,具有:存储待检测石蜡切片的存储装置,位于存储装置下方的传送带I,所述的传送带将存储装置释放的石蜡切片运输穿过一检测暗箱;所述检测暗箱内部具有成对设置红外发射装置和红外接收装置,所述的红外发射装置向经过的石蜡切片发出红外光,经石蜡切片反射后的红外光由所述的红外接收装置接收;还具有一比对当前石蜡切片温度和光学特性的处理单元,与所述的红外接收装置连接,比对经反射后的红外光,判定石蜡切片的温度和和光学特性,对石蜡切片的等级进行分类。
搜索关键词: 石蜡 温度 光学 特性 检测 系统
【主权项】:
一种石蜡温度‑光学特性检测系统,具有:存储待检测石蜡切片(11)的存储装置(1),位于存储装置(1)下方的传送带I(2),所述的传送带将存储装置(1)释放的石蜡切片(11)运输穿过一检测暗箱(3);所述检测暗箱(3)内部具有成对设置红外发射装置(31)和红外接收装置(32),所述的红外发射装置(31)向经过的石蜡切片(11)发出红外光,经石蜡切片反射后的红外光由所述的红外接收装置(32)接收;还具有一比对当前石蜡切片温度和光学特性的处理单元,与所述的红外接收装置连接,比对经反射后的红外光,判定石蜡切片的温度和和光学特性,对石蜡切片的等级进行分类。
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