[发明专利]低电平扫频电流测试系统及测试方法

摘要

本发明提供一种低电平扫频电流测试系统及方法，用于电子系统在HIRF环境下的辐射敏感度测试。采用等效测试的方法搭建测试系统，测试系统由低电平扫频电流和大电流注入两个主要测试部分组成，包括电场校准装置、大电流测试装置及电流注入装置；电场校准装置的主要目的是测量由发射天线发出的低电平校准电场，以此作为BCM线束电流归一化的依据。大电流测试装置的主要目的是在校准电场激励下的电子系统内部互联线缆束上的感应电流。本发明能完成飞机、舰船等大型复杂电子系统的HIRF辐射敏感度测试，测试所需的扫频电场电平低，对环境污染小，对测试人员无危害，且测试系统成本低、能够避免大功率功放禁运问题。

主权项

一种低电平扫频电流测试系统，其特征在于：包括信号发生装置（1）、测量接收装置（11）、发射天线（3）、场强探测装置（4）、电流测试装置（7）及电流注入装置；所述发射天线（3）用于发射信号发生装置（11）所产生的低电平扫频信号；所述场强探测装置（4）位于选定的待测点处，用于探测选定的待测点处发射天线发射的低电平扫频信号并将探测结果传递至测量接收装置（11）；所述电流测试装置（7）位于待测点处的待测系统监测点的线缆上，用于探测线缆的感应电流，并将该感应电流传输至测量接收装置（11）；所述测量接收装置（11）对接收的低电平扫频电场或感应电流进行测量并记录；所述电流注入装置包括电流注入部件（8）和电流监测部件（9），所述电流注入部件（8）和电流监测部件（9）钳在待测系统待测线缆束上。