[发明专利]一种介电超晶格材料周期测量仪及其使用方法有效
| 申请号： | 201310680682.0 | 申请日： | 2013-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN103674895A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 吕新杰;刘奕辰;蒋旭东;居盼盼;赵刚;祝世宁 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 陈建和 |
| 地址： | 210093 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种介电超晶格材料周期测量仪，包括激光光源、屏幕和刻度装置，待测介电超晶格材料放置于激光光源和刻度装置之间，所述激光光源垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置置于屏幕上。本发明采用光栅衍射原理，使用激光对介电体超晶格材料表面照射，通过检测透过的衍射点来判定材料周期。本发明装置简单，操作方便快捷，且准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 介电超 晶格 材料 周期 测量仪 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于：包括激光光源（1）、屏幕（7）和刻度装置（3），待测介电超晶格材料放置于激光光源（1）和刻度装置（3）之间，所述激光光源（1）垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕（7）平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置（3）置于屏幕（7）上。
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