[发明专利]数字阵列模块发射通道脉内频谱参数测试装置及方法有效
| 申请号： | 201310683774.4 | 申请日： | 2013-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN103675776A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 丁志钊;吴家亮;张龙;刘忠林;蒋玉峰 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01R23/16 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 龚燮英 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种数字阵列模块发射通道脉内频谱参数测试装置及方法，方法包括如下步骤：建立一个基于FPGA的状态控制模块；在时钟信号的上升沿，状态控制模块通过光模块对数字阵列模块的工作状态进行控制，同时使状态控制模块输出一路与数字阵列模块工作状态同步的脉冲信号，以同步信号为纽带，建立起数字阵列模块和频谱分析仪之间的同步关系；在开关网络的切换和调理下利用频谱分析仪的时间门功能实现脉内频谱参数的测试。本发明通过构建同步机制和引入时间门测试解决了数字阵列模块自身没有同步信号前提下的脉内频谱参数测试。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 阵列 模块 发射 通道 频谱 参数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种数字阵列模块发射通道脉内频谱参数测试装置，其特征在于，包括状态控制模块、数字阵列模块、开关网络及频谱分析仪；所述状态控制模块，通过光纤与数字阵列模块进行连接，实现数字阵列模块的工作状态控制；所述数字阵列模块，用于实现所述开关网络的输入端口与数字阵列模块的发射信号输出端口进行连接，所述开关网络的输出端口与频谱分析仪的输入端口进行连接，用于实现发射信号的衰减、发射信号与频谱分析仪之间测试路径的选择；所述频谱分析仪的外触发端口与状态控制模块同步信号输出端口进行连接，所述频谱分析仪的射频输入端口与开关网络的输出端口进行连接，用于实现时间门模式下脉内频谱参数的测试。
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