[发明专利]确定电路老化性能的方法和装置有效
| 申请号： | 201310684584.4 | 申请日： | 2013-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN103744008A | 公开（公告）日： | 2014-04-23 |
| 发明（设计）人： | 孙永生;郭建平;付一伟 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人： | 毛威;张亮 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种确定电路老化性能的方法和装置，该方法包括：确定电路中每个鳍式场效晶体管的自发热温度；根据每个鳍式场效晶体管的自发热温度，确定每个鳍式场效晶体管的仿真温度；根据每个鳍式场效晶体管的仿真温度，确定该电路的电路老化性能。本发明实施例的确定电路老化性能的方法和装置，根据电路中每个鳍式场效晶体管的自发热温度确定每个鳍式场效晶体管的仿真温度，能够使每个鳍式场效晶体管的仿真温度与每个鳍式场效晶体管的实际温度相接近，从而能够使根据该仿真温度确定的电路老化性能与实际情况下的电路老化性能相符合，进而能够提高确定电路老化性能的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 电路 老化 性能 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种确定电路老化性能的方法，其特征在于，包括：确定电路中每个鳍式场效晶体管的自发热温度；根据所述每个鳍式场效晶体管的自发热温度，确定所述每个鳍式场效晶体管的仿真温度；根据所述每个鳍式场效晶体管的仿真温度，确定所述电路的电路老化性能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司，未经华为技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310684584.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
