[发明专利]一种对16位芯片内核进行调试控制的装置及方法

摘要

本发明公开了一种对16位芯片内核进行调试控制的装置及方法，包括：调试接口模块（202），用于将调试指令输出到调试指令缓存模块（204）以及将调试使能信号输出到数据选择译码模块（206）；调试指令缓存模块（204）；数据选择译码模块（206），用于根据所述调试使能信号判断是选择程序指令还是选择调试指令；调试控制模块（208），用于在接收到的调试使能信号使能时，对译码后的调试指令进行处理。本发明在不影响16位CPU芯片运行的前提下，对16位CPU芯片以硬件方式进行调试，并且提高了对16位CPU芯片的功能和性能调试的效率。

主权项

一种对16位芯片内核进行调试控制的装置，其特征在于，至少包括：调试接口模块（202），用于将调试指令输出到调试指令缓存模块（204）；将调试使能信号输出到数据选择译码模块（206）；调试指令缓存模块（204），用于接收来自所述调试接口模块的调试指令并缓存；数据选择译码模块（206），用于接收来自外部程序指令缓存模块的程序指令、来自所述调试指令缓存模块（204）的调试指令以及来自调试接口模块（202）的调试使能信号；根据所述调试使能信号判断是选择程序指令还是选择调试指令：当所述调试使能信号使能时，对所述调试指令、以及所述调试使能信号进行译码，将译码后的调试指令以及调试使能信号输出到调试控制模块（208）；当所述调试使能信号无效时，对所述程序指令、以及所述调试使能信号进行译码，将译码后的程序指令以及调试使能信号输出到调试控制模块（208）；调试控制模块（208），用于在接收到的调试使能信号使能时，对所述译码后的调试指令进行处理。