[发明专利]增强硅薄膜太阳电池光吸收的织构横向错位方法有效
申请号: | 201310692912.5 | 申请日: | 2013-12-16 |
公开(公告)号: | CN103646998A | 公开(公告)日: | 2014-03-19 |
发明(设计)人: | 高斐;王皓石;刘生忠;訾威;陈彦伟;武怡;宋飞莺;马笑轩;肖锋伟 | 申请(专利权)人: | 陕西师范大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 西安永生专利代理有限责任公司 61201 | 代理人: | 高雪霞 |
地址: | 710062 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种增强硅薄膜太阳电池光吸收的织构横向错位方法,在硅的N-I-P层与前、背两个透明导电氧化物层之间分别刻蚀周期边长为200~500nm的锯齿状三角一维光栅,其中硅的N-I-P层前表面的三角一维光栅与硅的N-I-P层背表面的三角一维光栅横向错位20~160nm。本发明通过使硅薄膜太阳电池光吸收的前、背光栅织构横向错位来增强电池的光吸收,硅薄膜太阳电池的总光吸收率与未横向错位的硅薄膜太阳电池相比,相对提高了7.9%~17.8%,进一步提升了硅薄膜太阳电池的效率。 | ||
搜索关键词: | 增强 薄膜 太阳电池 光吸收 横向 错位 方法 | ||
【主权项】:
一种增强硅薄膜太阳电池光吸收的织构横向错位方法,其特征在于:在硅的N‑I‑P层与前、背两个透明导电氧化物层之间分别刻蚀周期边长为200~500nm的锯齿状三角一维光栅,其中硅的N‑I‑P层前表面的三角一维光栅与硅的N‑I‑P层背表面的三角一维光栅横向错位20~160nm。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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