[发明专利]信号分析装置及信号分析方法有效
申请号: | 201310713394.0 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN104076202A | 公开(公告)日: | 2014-10-01 |
发明(设计)人: | 大谷畅;秋山典洋 | 申请(专利权)人: | 安立股份有限公司 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 康建峰;李春晖 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种信号分析装置及信号分析方法,其与以往相比能够进一步扩大动态范围。本发明的频谱分析仪(1)具备:频率转换部(10),包括对模拟的输入信号的信号电平进行调整的S-ATT(11),且将输入信号频率转换为预定中间频率的信号;V-ATT(21),对频率转换部(10)的输出信号的信号电平进行调整;ADC(23),将V-ATT(21)的输出信号转换成数字信号;f特性校正滤波器(24),对ADC(23)的输出信号的频率特性进行校正;及噪声层电平减法运算部(25),从表示预定频带中S-ATT(11)至f特性校正滤波器(24)为止的所有噪声电平的噪声层电平中,减去ADC(23)的噪声电平。 | ||
搜索关键词: | 信号 分析 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种信号分析装置(1),其具备:频率转换机构(10),包括对模拟的输入信号的信号电平进行调整的第1衰减器(11),且将所述输入信号频率转换成预定中间频率的信号;第2衰减机构(21),对所述频率转换机构的输出信号的信号电平进行调整;模数转换机构(23),将所述第2衰减机构的输出信号转换成数字信号;频率特性校正机构(24),对所述模数转换机构的输出信号的频率特性进行校正;及信号分析机构(26),对从所述频率特性校正机构输出的信号进行分析,所述信号分析装置的特征在于,具备:噪声层电平减法运算机构(25),接收从所述频率特性校正机构输出的信号,并从表示预定频带中将包含所述第1衰减器的所述频率转换机构、所述第2衰减机构及所述模数转换机构包含在信号通道内且至所述频率特性校正机构为止的所述信号通道的噪声电平的噪声层电平中,减去所述模数转换机构的噪声电平,并向所述信号分析机构输出已进行减法运算的信号。
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