[发明专利]一种低介电损耗CaCu3Ti4O12薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310716704.4 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN103695872A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 林媛;冯大宇;吉彦达;靳立彬 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C23C18/12 分类号: C23C18/12;H01B3/10
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 李明光
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种低介电损耗CaCu3Ti4O12薄膜的制备方法,属于电介质材料合成技术领域。包括以下步骤:1)按照钙、铜、钛摩尔比为1:3:4的比例,配制含钙铜钛的前驱液;2)基片放入管式炉中,升温至900℃保持10小时,随炉自然降至室温;3)采用旋涂法将含钙铜钛的前驱液涂布在基片上,烘干得到含钙铜钛的薄膜样品;4)将步骤3)中得到的薄膜样品放入高压炉中,调节高压炉中气体气氛,使高压炉中保持0.35~0.75Mpa的高纯氧,在900℃下对薄膜样品进行烧结处理,然后随炉降温得到CaCu3Ti4O12薄膜。采用本发明方法制备的薄膜质量高,表面均匀,介电损耗有大幅度下降。
搜索关键词: 一种 低介电 损耗 cacu sub ti 12 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种低介电损耗CaCu3Ti4O12薄膜的制备方法,包括以下步骤:(1)分别将含钙盐、铜盐、钛盐的混合液与水溶性高分子混合,得到含钙络合物的混合液、含铜络合物的混合液、含钛络合物的混合液,然后按照含钙络合物、含铜络合物、含钛络合物的摩尔比为1:3:4的比例,配制含钙铜钛的混合液,作为制备CaCu3Ti4O12薄膜的前驱液;(2)将基片放入管式炉中,升温至900℃保持10小时后,随炉自然降温至室温;(3)采用旋涂的方法将含钙铜钛的前驱液均匀涂布在步骤(2)处理后的基片上,并置于干燥箱中烘干,得到含钙铜钛的薄膜样品;(4)将步骤(3)中得到的含钙铜钛的薄膜样品放入高压炉中,调节高压炉中气体气氛,使高压炉中保持0.35~0.75Mpa压强范围的高纯氧,在900℃下对薄膜样品进行烧结处理,然后随炉自然降温至室温,得到低介电损耗的CaCu3Ti4O12薄膜。
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