[发明专利]一种提高大容量反熔丝存储器成品率的方法在审
| 申请号： | 201310717721.X | 申请日： | 2013-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN104733048A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 李孝远;罗春华;邱嘉敏;陈益冬 | 申请（专利权）人： | 深圳市国微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C17/16 | 分类号： | G11C17/16 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种提高大容量反熔丝存储器成品率的方法，包括根据反熔丝存储器的结构确定反熔丝存储器编程和读取环路；确定置换修复功能电路；通过对反熔丝存储器成品率的预估确定反熔丝存储器的置换修复功能电路的规模；通过对反熔丝存储器的数据进行校验来判断是否需要对反熔丝存储器进行修复，若是，则选择相应规模的置换修复功能电路对反熔丝存储器的错误存储位或有缺陷存储位进行置换修复；根据反熔丝存储器的成品率调整置换修复功能电路的规模，并采用调整后的置换修复功能电路对反熔丝存储器的错误存储位或有缺陷存储位进行置换修复。本发明采用硬件电路有效提高大容量反熔丝存储器的成品率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 容量 反熔丝 存储器 成品率 方法 | ||
【主权项】：
一种提高大容量反熔丝存储器成品率的方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)根据反熔丝存储器的结构确定反熔丝存储器编程和读取环路；(2)根据所述反熔丝存储器编程和读取环路确定置换修复功能电路；(3)通过对反熔丝存储器成品率的预估确定所述反熔丝存储器的置换修复功能电路的规模；(4)通过对所述反熔丝存储器的数据进行校验来判断是否需要对所述反熔丝存储器进行修复，若是，则选择相应规模的置换修复功能电路对反熔丝存储器的错误存储位或有缺陷存储位进行置换修复，若否，则结束；(5)根据所述反熔丝存储器的成品率调整置换修复功能电路的规模，并采用调整后的置换修复功能电路对反熔丝存储器的错误存储位或有缺陷存储位进行置换修复。
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