[发明专利]一种磁场测量分析系统有效

专利信息
申请号: 201310720934.8 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN103675723B 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 魏庆瑄;张俊峰;李桂良 申请(专利权)人: 上海子创镀膜技术有限公司
主分类号: G01R33/07 分类号: G01R33/07
代理公司: 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙)31243 代理人: 陈贞健
地址: 201506 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及到一种通过霍尔探头的磁场测量分析装置。包括机架装置、安装在机架装置顶端的横向移动装置,安装在机架装置上端且与横向移动装置成“十”字交叉联接的纵向移动装置,随横向移动装置左右移动且随纵向移动装置上下移动的霍尔探针,在所述横向移动装置上设有横向刻度尺,在所述纵向移动装置上设有纵向刻度尺,通过高斯仪上的霍尔探头的霍尔效应对磁铁表面分不同需要进行定点法进行磁场测量,采集不同点的磁场强度,并通过相应的软件绘制出磁场的曲线图,根据测量获得的磁钢排布的磁场均匀性,可用于磁钢的安装及调整,提高了磁场排布的均匀性,具有测量过程方面快捷、测量结果精确、稳定可靠等特点。
搜索关键词: 一种 磁场 测量 分析 系统
【主权项】:
一种磁场测量分析系统,其特征在于,包括机架装置(1)、安装在机架装置(1)顶端的横向移动装置(2),安装在机架装置(1)上端且与横向移动装置(2)成“十”字交叉联接的纵向移动装置(3),随横向移动装置(2)左右移动且随纵向移动装置(3)上下移动的霍尔探针(13),在所述横向移动装置(2)上设有横向刻度尺(4),在所述纵向移动装置(3)上设有纵向刻度尺(5),在所述机架装置(1)的上端、霍尔探针(13)下方位设有被测部件(10),所述被测部件(10)通过定位装置(6)固定,所述横向移动装置(2)包括第一手轮(12)、第一齿轮齿条(15),横向直线导轨(19),所述霍尔探针(13)可通过所述横向直线导轨(19)内的导轨进行左、右移动,当所述第一手轮(12)转动时,带动所述第一齿轮齿条(15)转动,进一步带动所述霍尔探针(13)在横向直线导轨内(19)左、右移动,所述第一手轮(12)、第一齿轮齿条(15)、横向直线导轨(19)、霍尔探针(13)、横向刻度尺(4)结合组成霍尔探针测量机构(14),在机架装置(1)的顶端安装有一个高斯仪(17),所述高斯仪(17)与霍尔探针测量机构(14)相连,通过高斯仪(17)的数字显示屏,显示采集各点的磁场强度,所述横向刻度尺(4)安装在所述横向直线导轨(19)上,通过所述横向刻度尺(4)可观测到霍尔探针(13)在所述横向直线导轨(19)上的移动距离,所述纵向移动装置(3)包括第二手轮(11)、第二齿轮齿条(16),纵向直线导轨(20),所述霍尔探针测量机构(14)通过其上的滑块安装在纵向直线导轨(20)内,所述第二手轮转动(11),带动第二齿轮齿条运动(16),进一步带动霍尔探针测量机构(14)在纵向直线导轨(20)内做上、下移动,所述机架装置(1)的底端设有移动脚轮(7),所述移动脚轮(7)的下端还设有支撑板(8),在所述霍尔探针(13)的上端设有上下移动装置(9),通过所述上下移动装置(9)可微调霍尔探针(13)与被测部件(10)上下之间的距离。
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