[发明专利]偏光膜检测装置在审
| 申请号： | 201310722503.5 | 申请日： | 2013-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN103913859A | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 许宰宁;朴宰贤 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 杨黎峰;石磊 |
| 地址： | 韩国全罗*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种能检测偏光膜的黑模式的偏光膜检测装置。本发明一个实施方式的偏光膜检测装置具有：光源，其用于产生光；照射部，其使光源产生的光照射在透光轴相互交叉并垂直配置的偏光膜上；拍摄部，其从照射部的相反侧对偏光膜进行拍摄；光传递部件，其将光源产生的光传递至照射部；连通部，其分别连通光源与光传递部件以及光传递部件与照射部；波长成分遮挡滤波器，其设置在连通部上，从光源产生的光中遮去红外线区域与紫外线区域这二者的至少其中之一。 | ||
| 搜索关键词： | 偏光 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种偏光膜检测装置，其特征在于，具有：光源，其用于产生光；照射部，其使所述光源产生的光照射在透光轴相互交叉并垂直配置的偏光膜上；拍摄部，其从照射部的相反侧对所述偏光膜进行拍摄；光传递部件，其将所述光源产生的光传递至所述照射部；连通部，其分别连通所述光源与所述光传递部件以及所述光传递部件与所述照射部；波长成分遮挡滤波器，其设置在所述连通部上，从所述光源产生的光中遮去红外线区域与紫外线区域这二者的至少其中之一。
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