[发明专利]等离子体处理腔室及其静电夹盘的制造方法在审

专利信息
申请号: 201310727863.4 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN104752119A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 贺小明 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)有限公司
主分类号: H01J9/00 分类号: H01J9/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 王洁
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种等离子体处理腔室及其静电夹盘的制造方法,其中,所述制造方法包括如下步骤:提供一陶瓷基底;在所述陶瓷基底上打若干通孔,所述通孔用于容纳金属连接线;提供若干金属连接线,将若干金属连接线分别镶嵌入所述陶瓷基底的所述若干通孔之中;在真空环境中利用扩散焊加热镶嵌了金属连接线的陶瓷基底,使得所述金属连接线和通孔焊接在一起;将直流电极层置于所述陶瓷基底之上;在放置了直流电极层的陶瓷基底之上涂覆抗腐蚀层。本发明制造的金属连接线,不会损坏直流电极层,在其上继续涂覆抗腐蚀层也极为稳定。
搜索关键词: 等离子体 处理 及其 静电 制造 方法
【主权项】:
一种等离子体处理腔室的静电夹盘的制造方法,其中,所述制造方法包括如下步骤:提供一陶瓷基底;在所述陶瓷基底上打若干通孔,所述通孔用于容纳金属连接线;提供若干金属连接线,将若干金属连接线分别镶嵌入所述陶瓷基底的所述若干通孔之中;在真空环境中利用扩散焊加热镶嵌了金属连接线的陶瓷基底,使得所述金属连接线和通孔焊接在一起;将直流电极层置于所述陶瓷基底之上;在放置了直流电极层的陶瓷基底之上涂覆抗腐蚀层。
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