[发明专利]一种晶体硅表面的钝化层的制备方法在审
申请号: | 201310735412.5 | 申请日: | 2013-12-28 |
公开(公告)号: | CN103746032A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 刘建英 | 申请(专利权)人: | 刘建英 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人: | 李富元 |
地址: | 030000 *** | 国省代码: | 山西;14 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种晶体硅表面的钝化层的制备方法,包括p型硅片的背场钝化层与n型硅片的p型前发射极表面钝化层,所述的钝化层是AIN薄膜。所述的晶体硅表面的钝化层的制备方法,包括如下步骤:步骤I:按照晶体硅太阳能电池的工艺在p型硅片或n型硅片扩散制备PN结;步骤2:采用磁控溅射技术,以Al作为靶材,NHo作为反应气源,Ar气作为等离子体增强气,在经步骤l处理的晶体硅衬底的p型硅表面沉积AIN薄膜作为钝化层;或者采用等离子增强化学气相沉积技术,以三甲基铝作为Al源,NHo作为氮化源,氮气或者氩气作为Al源的载气,在步骤l得到的p型硅表面沉积AIN薄膜钝化层;步骤3:将步骤2处理后的p型硅片或n型硅片进行热处理,以激活钝化层的钝化效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶体 表面 钝化 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种晶体硅表面的钝化层的制备方法,包括p型硅片的背场钝化层与n型硅片的p型前发射极表面钝化层,其特征是:所述的钝化层是AIN薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于刘建英,未经刘建英许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310735412.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的