[发明专利]一种晶体硅表面的钝化层的制备方法在审

专利信息
申请号: 201310735412.5 申请日: 2013-12-28
公开(公告)号: CN103746032A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 刘建英 申请(专利权)人: 刘建英
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 代理人: 李富元
地址: 030000 *** 国省代码: 山西;14
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摘要: 一种晶体硅表面的钝化层的制备方法,包括p型硅片的背场钝化层与n型硅片的p型前发射极表面钝化层,所述的钝化层是AIN薄膜。所述的晶体硅表面的钝化层的制备方法,包括如下步骤:步骤I:按照晶体硅太阳能电池的工艺在p型硅片或n型硅片扩散制备PN结;步骤2:采用磁控溅射技术,以Al作为靶材,NHo作为反应气源,Ar气作为等离子体增强气,在经步骤l处理的晶体硅衬底的p型硅表面沉积AIN薄膜作为钝化层;或者采用等离子增强化学气相沉积技术,以三甲基铝作为Al源,NHo作为氮化源,氮气或者氩气作为Al源的载气,在步骤l得到的p型硅表面沉积AIN薄膜钝化层;步骤3:将步骤2处理后的p型硅片或n型硅片进行热处理,以激活钝化层的钝化效果。
搜索关键词: 一种 晶体 表面 钝化 制备 方法
【主权项】:
一种晶体硅表面的钝化层的制备方法,包括p型硅片的背场钝化层与n型硅片的p型前发射极表面钝化层,其特征是:所述的钝化层是AIN薄膜。
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