[发明专利]半导体装置的制造方法以及制造装置无效
申请号: | 201310737133.2 | 申请日: | 2013-12-26 |
公开(公告)号: | CN104143501A | 公开(公告)日: | 2014-11-12 |
发明(设计)人: | 水上诚;梁濑直子;山下敦子 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L21/04 | 分类号: | H01L21/04;H01L21/324 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 杨谦;房永峰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的实施方式提供特性良好的半导体装置的制造方法以及制造装置。实施方式涉及的半导体装置的制造方法具备:对碳化硅基板注入杂质的工序;对所述碳化硅基板的一个面涂敷有机溶液的工序;通过在非氧化性气氛中对所述有机溶液进行加热,在所述碳化硅基板的所述一个面上以及另一个面上形成碳层的工序;和使所述杂质活化的工序。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 以及 | ||
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,具备:对第一及第二碳化硅基板分别注入杂质的工序;对所述第一碳化硅基板的一个面以及所述第二碳化硅基板的一个面涂敷有机溶液的工序;在非活性气体气氛中,在将所述第一及第二碳化硅基板排列成所述第一碳化硅基板的所述一个面与所述第二碳化硅基板的另一个面对置的状态下对所述有机溶液进行加热,由此使溶质的一部分从所述有机溶液气化,使气化后的所述溶质附着到所述第二碳化硅基板的另一个面上,在所述第一及第二碳化硅基板的所述一个面上以及所述另一个面上形成碳层的工序;使所述杂质活化的工序;以及去除所述碳层的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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