[发明专利]对TDC进行非线性校正的方法和装置有效
| 申请号： | 201310738218.2 | 申请日： | 2013-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN104184473A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 吕新宇;安少辉 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 201815 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种对TDC进行非线性校正的方法及装置，所述方法包括以下步骤：a)在探测器的扫描视野内放置放射源，并将探测器与电子学的时间偏移初始化归零；b)探测辐射事件，记录每个TDC通道的输出次数，以获得TDC通道的计数分布；c)选择一个TDC通道作为参考通道，使得布置在所选通道两侧的TDC通道的输出次数之和相等；d)为所述参考通道设置一个时间，并基于所述参考通道的时间计算各TDC通道的时间。本发明中的装置可实现上述TDC进行非线性校正的方法。利用本发明的方法，能够有效提高TDC输出的准确性；同时在校正过程中，无需外部提供信号源，操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | tdc 进行 非线性 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种对TDC进行非线性校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：a)在探测器的扫描视野内放置放射源，并将探测器与电子学的时间偏移初始化归零；b)探测辐射事件，记录每个TDC通道的输出次数，以获得TDC通道的计数分布；c)选择一个TDC通道作为参考通道，使得布置在所选通道两侧的TDC通道的输出次数之和相等；d)为所述参考通道设置一个时间，并基于所述参考通道的时间计算各TDC通道的时间。
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