[发明专利]一种TDLAS气体检测方法及系统有效
| 申请号： | 201310741792.3 | 申请日： | 2013-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103645156A | 公开（公告）日： | 2014-03-19 |
| 发明（设计）人： | 梁学军 | 申请（专利权）人： | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 102206 北京市昌*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种TDLAS气体检测方法及系统，所述方法包括：半导体激光器出射的线激光入射到传输光纤；传输光纤出射的线激光入射到全反射镜；全反射镜将线激光反射后入射到垂直放置的气室；入射到气室的线激光经第一透镜组反射后从线激光的入射面出射；分析装置接收垂直放置的气室出射的线激光进行检测，混合气体由于各个气体的比重不同，在垂直放置的气室中分层，激光入射到垂直放置的气室内后，经过第一透镜组反射后从激光的入射面出射，激光可以照射到垂直放置的气室中的每一层气体，防止出现气体漏检的情况，减小混合气体检测的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tdlas 气体 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种TDLAS气体检测方法，其特征在于，所述方法包括：半导体激光器出射的线激光入射到传输光纤；传输光纤出射的线激光入射到全反射镜；全反射镜将线激光反射后入射到垂直放置的气室；入射到气室的线激光经第一透镜组反射后从线激光的入射面出射；分析装置接收垂直放置的气室出射的线激光进行检测。
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