[发明专利]一种运动传感器的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310743292.3 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN104743501A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 谢红梅;许继辉;于佳 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;高伟
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种运动传感器的制备方法,提供基底,所述基底上形成有CMOS器件;在所述基底上形成底部电极以及位于所述底部电极上方的MEMS衬底,并在所述底部电极和所述MEMS衬底间形成空腔;蚀刻所述MEMS衬底至所述底部电极,以形成深通孔,进而露出所述底部电极;蚀刻所述深通孔的顶部,以扩大所述深通孔顶部开口的关键尺寸;在所述深通孔的侧壁上形成绝缘层;在所述深通孔内沉积金属材料,然后蚀刻去除所述深通孔顶部沉积的所述金属材料,以保持所述开口具有大的关键尺寸。在本发明所述方法在在填充过程中不会形成孔洞,提高了器件的良率。
搜索关键词: 一种 运动 传感器 制备 方法
【主权项】:
一种运动传感器的制备方法,包括:提供基底,所述基底上形成有CMOS器件;在所述基底上形成底部电极以及位于所述底部电极上方的MEMS衬底,并在所述底部电极和所述MEMS衬底间形成空腔;蚀刻所述MEMS衬底至所述底部电极,以形成深通孔,进而露出所述底部电极;蚀刻所述深通孔的顶部,以扩大所述深通孔顶部开口的关键尺寸;在所述深通孔的侧壁上形成绝缘层;在所述深通孔内沉积金属材料,然后蚀刻去除所述深通孔顶部沉积的所述金属材料,以保持所述开口具有大的关键尺寸。
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