[发明专利]氧化物薄膜晶体管及显示装置有效

专利信息
申请号: 201310750079.5 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN103715268A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 李红敏;李小和;董职福;张晓洁;薛伟 申请(专利权)人: 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/417
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李迪
地址: 230012 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种氧化物薄膜晶体管及显示装置,通过在所述氧化物薄膜晶体管中引入与IGZO有源层接触的IGZO接触层提升薄膜晶体管的开态电流,引入与IGZO有源层接触的IGZO绝缘层或者采用IGZO绝缘层作为栅极绝缘层和蚀刻阻挡层来减小薄膜晶体管的关态电流,来提升薄膜晶体管的开态电流与关态电流之比,从而显著提高显示装置的显示效果。
搜索关键词: 氧化物 薄膜晶体管 显示装置
【主权项】:
一种氧化物薄膜晶体管,包括:基板;栅极,形成在所述基板上;栅极绝缘层,形成在所述栅极上;氧化物有源层,形成在所述栅极绝缘层上;蚀刻阻挡层,形成在所述氧化物有源层上,且所述蚀刻阻挡层上具有开口;源/漏电极,形成在所述蚀刻阻挡层上,所述源/漏电极通过接触层、并经由所述蚀刻阻挡层上的所述开口与所述氧化物有源层电连接;其中,所述接触层由与所述氧化物有源层相同成分的氧化物材料制成,所述接触层与所述氧化物有源层的氧化物材料的含氧量不同,所述接触层表现为导体特性,所述氧化物有源层表现为半导体特性。
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