[发明专利]OLED模组的快速温变强化测试系统有效

专利信息
申请号: 201310754563.5 申请日: 2013-12-31
公开(公告)号: CN103714769A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 苏萌;胡洪江;苏良河;杨林;刘群兴;蒋春旭;徐华伟;黄林轶;王颍凯;王深;刘嘉祁 申请(专利权)人: 工业和信息化部电子第五研究所
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G01M11/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 王茹;曾旻辉
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种OLED模组的快速温变强化测试系统,包括:工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、快速温变箱和OLED模组承载装置;OLED模组承载装置设于快速温变箱内,用于承载待测的OLED模组;工控机分别与程控电源、可编程控制器、光谱仪和快速温变箱连接;光学探头设于快速温变箱上方并连接光谱仪;程控电源用于对待测的OLED模组进行供电;工控机用于实时控制程控电源并读取程控电源的输出数据,通过可编程控制器控制所述程控电源输出的通断,控制光谱仪的操作并实时读取光谱仪的检测数据。本发明的技术方案,可以在大范围快速温变环境下对OLED模组的光学参数的测试,提高了测试结果的准确性,而且实现测试过程的自动化,提高了测试效率。
搜索关键词: oled 模组 快速 强化 测试 系统
【主权项】:
一种OLED模组的快速温变强化测试系统,其特征在于,包括:工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、快速温变箱和OLED模组承载装置;所述OLED模组承载装置设于快速温变箱内,用于承载待测的OLED模组;所述工控机分别与程控电源、可编程控制器、光谱仪和快速温变箱连接;所述光学探头设于快速温变箱上方并连接光谱仪;所述程控电源用于对待测的OLED模组进行供电;所述工控机用于实时控制程控电源并读取程控电源的输出数据,通过可编程控制器控制所述程控电源输出的通断,控制光谱仪的操作并实时读取光谱仪的检测数据。
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