[实用新型]液晶模组光学测量工装有效
| 申请号： | 201320011856.X | 申请日： | 2013-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN203024957U | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 杨伟茂 | 申请（专利权）人： | 四川长虹光电有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02F1/13 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 刘世平 |
| 地址： | 621000 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及液晶模组光学测量工装，包括：具有多通道模/数转换输入口的MCU通过I/O端口与显示模块和输入模块连接，所述MCU还通过串口与存储模块连接，MCU的数据端口通过光电转换模块与检测液晶模组表面光学参数的光电探头相连，所述的MCU、显示模块、存储模块和光电转换模块分别与供电模块连接。本实用新型的液晶模组光学测量工装，通过工装的自动测量和自动记录数据，能够有效的提高测量数据的准确性，明显降低了人工的工作量，并且提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 模组 光学 测量 工装 | ||
【主权项】：
液晶模组光学测量工装，其特征包括：具有多通道模/数转换输入口的MCU通过I/O端口与显示模块和输入模块连接，所述MCU还通过串口与存储模块连接，MCU的数据端口通过光电转换模块与检测液晶模组表面光学参数的光电探头相连，所述的MCU、显示模块、存储模块和光电转换模块分别与供电模块连接。
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