[实用新型]一种微弱光检测仪的暗室有效
| 申请号： | 201320023428.9 | 申请日： | 2013-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN203100894U | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 谭永红;申玲 | 申请（专利权）人： | 北京滨松光子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种微弱光检测仪的暗室，其结构包括样品转盘(1)、轴承套(2)、暗室底盘(3)、螺栓套(4)、支架(5)、轴(6)、暗室盖(7)、电机(8)、支柱(9)，其中，暗室盖(7)与暗室底盘(3)扣合在一起形成暗室，样品转盘(1)被密封在所述暗室内。本实用新型的暗室结构降低了外壳加工的难度，有效地屏蔽了仪器内部某些器件发光的影响，保证了仪器本底值的正常。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微弱 检测 暗室 | ||
【主权项】：
一种微弱光检测仪的暗室，包括样品转盘(1)、轴承套(2)、暗室底盘(3)、螺栓套(4)、支架(5)、轴(6)、暗室盖(7)、电机(8)、支柱(9)，其特征在于：暗室盖(7)与暗室底盘(3)扣合在一起形成暗室，样品转盘(1)被密封在所述暗室内。
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