[实用新型]一种DC-DC探针卡板有效

专利信息
申请号: 201320029011.3 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN203133129U 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 朱雪山 申请(专利权)人: 扬州芯际半导体有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 赵秀斌
地址: 225131 江苏省扬州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种DC-DC探针卡板,只要对应的焊上电容和继电器就好了,减少了焊线的工作量,也就减少了人为的失误,Trim针区最多可焊19根trim针,满足了trim针的需要。Trim针周围有一圈地线,起到信号屏蔽作用,防止干扰测试;DC-DC探针卡板上设有四个大的功能PAD焊接区域供DC-DC的功能脚使用。在测试时,有的产品需要带很大的负载,这样导线和探针上阻值对测试就有很大影响,解决的方法是在四个大的功能PAD焊接区置多根针,增大接触面积,减小接触阻抗,加粗导线,大的功能PAD焊接区就也方便探针的定位和导线的焊接。DC-DC类电路在测试时一般需要加一些外围器件,但这些器件对一些测试项有影响,所以需要增加继电器断开这些外围,从而更准确的测试出电路的参数性能。
搜索关键词: 一种 dc 探针
【主权项】:
一种DC‑DC探针卡板,其特征在于:包括Trim针区、Trim控制继电器焊接位、Trim电容焊接位、电容放电位、外围控制继电器区、功能PAD焊接区、测试外围器件区,所述Trim针区设有19根Trim针,所述功能PAD焊接区设有四个,所述每个功能PAD焊接区中均分别设有1个或1个以上的焊点,所述外围控制继电器区设有两个,所述测试外围器件区通过两个外围控制继电器区与其中一个功能PAD焊接区相连,所述Trim控制继电器焊接位、Trim电容焊接位与两个外围控制继电器区同时相连,所述电容放电位与所述Trim电容焊接位相连。
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