[实用新型]模拟集成电路测试仪有效
申请号: | 201320079785.7 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN203149087U | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 陈孟元;曹龙;李腾飞 | 申请(专利权)人: | 安徽工程大学 |
主分类号: | G01R31/3163 | 分类号: | G01R31/3163 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 241008 安徽省芜湖市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型提供一种模拟集成电路测试仪,包括:芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出;模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。该模拟集成电路测试仪能够对6种特定型号的模拟芯片进行测试,包括0809,0832,2114,3524,LM324,LM347。 | ||
搜索关键词: | 模拟 集成电路 测试仪 | ||
【主权项】:
一种模拟集成电路测试仪,其特征在于,包括: 芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出; 模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和 单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。
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