[实用新型]模拟集成电路测试仪有效

专利信息
申请号: 201320079785.7 申请日: 2013-02-01
公开(公告)号: CN203149087U 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 陈孟元;曹龙;李腾飞 申请(专利权)人: 安徽工程大学
主分类号: G01R31/3163 分类号: G01R31/3163
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 241008 安徽省芜湖市高新区*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型提供一种模拟集成电路测试仪,包括:芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出;模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。该模拟集成电路测试仪能够对6种特定型号的模拟芯片进行测试,包括0809,0832,2114,3524,LM324,LM347。
搜索关键词: 模拟 集成电路 测试仪
【主权项】:
一种模拟集成电路测试仪,其特征在于,包括: 芯片测试电路,包括0809、0832、2114、3524、LM324和LM347芯片测试电路,适于接收输入,并且产生输出; 模数转换器,与0832、3524、LM324和LM347芯片测试电路耦接,用于对其输出进行模数转换;和 单片机,用于接收来自0809和2114芯片测试电路以及模数转换器的输出,将其与预设的正确值进行比较,如果结果一致或者在误差范围内,则确定芯片功能正常,否则确定芯片出错。
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