[实用新型]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201320107342.4 申请日: 2013-03-08
公开(公告)号: CN203277367U 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 秦志康;斋藤隆幸;堀部裕史 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 谢丽娜;关兆辉
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型提供一种即使在进行半导体装置的工作保证温度的高温化的情况下也能够提高半导体装置的可靠性的技术。在多个焊盘(PD1~PD3)之间设置间隙,在该间隙中填埋例如由氧化硅膜、氮化硅膜构成的玻璃涂层(GC1)。该玻璃涂层(GC1)为了确保焊盘(PD1~PD3)间的电绝缘性而设置,覆盖焊盘(PD1~PD3)的外缘部。另外,在焊盘(PD1~PD3)的外缘部中,以与被玻璃涂层(GC1)覆盖的区域的邻接的方式形成槽(DIT1)。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具有:(a)半导体芯片,具有配置第1焊盘和与上述第1焊盘相邻的第2焊盘的表面;(b)布线部件,具备搭载上述半导体芯片的上表面、与上述半导体芯片的上述第1焊盘电连接的第1外部端子及与上述半导体芯片的上述第2焊盘电连接的第2外部端子;(c)第1金属线,使上述半导体芯片的上述第1焊盘与上述布线部件的上述第1外部端子电连接;(d)第2金属线,使上述半导体芯片的上述第2焊盘与上述布线部件的上述第2外部端子电连接;以及(e)密封体,密封上述半导体芯片、上述布线部件的一部分、上述第1金属线及上述第2金属线,上述第1金属线经由第1金属焊球与上述第1焊盘电连接,俯视时,在由上述第1金属焊球和上述第2焊盘夹着的上述第1焊盘的表面的一部分形成第1槽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社,未经瑞萨电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320107342.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top