[实用新型]可精确测量的眉笔有效
| 申请号： | 201320144630.7 | 申请日： | 2013-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN203137413U | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 张光弟 | 申请（专利权）人： | 张光弟 |
| 主分类号： | A45D40/20 | 分类号： | A45D40/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 325000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 可精确测量的眉笔，由眉笔(1)、笔盖(2)、刻度线(3)和水平仪(4)组成，其特征在于：笔盖(2)嵌套在眉笔(1)的顶部，刻度线(3)固定镶嵌在笔盖(2)的外壁，水平仪(4)固定嵌在笔盖(2)的外壁。可精确测量的眉笔为爱美人士在化妆时在精确度上提供方便。 | ||
| 搜索关键词： | 精确 测量 眉笔 | ||
【主权项】：
可精确测量的眉笔，由眉笔(1)、笔盖(2)、刻度线(3)和水平仪(4)组成，其特征在于：笔盖(2)嵌套在眉笔(1)的顶部，刻度线(3)固定镶嵌在笔盖(2)的外壁，水平仪(4)固定嵌在笔盖(2)的外壁。
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