[实用新型]高压导体接触不良的双螺母串接试验装置有效
申请号: | 201320151761.8 | 申请日: | 2013-03-29 |
公开(公告)号: | CN203178421U | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 冯蓓艳;殷立军;张华;都泓蔚;常鹏;华月申;于盛楠;聂鹏晨 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;上海市电力公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 张妍 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,包含高压导体,还包含第一螺母及第二螺母;第一螺母设置在高压导体的下端;第二螺母设置在第一螺母的下端。本实用新型能有效模拟高压导体一点接触不良。 | ||
搜索关键词: | 高压 导体 接触 不良 螺母 试验装置 | ||
【主权项】:
高压导体接触不良的双螺母串接试验装置,包含高压导体(1),其特征在于,还包含第一螺母(2)及第二螺母(3);所述的第一螺母(2)设置在高压导体(1)的下端;所述的第二螺母(3)设置在第一螺母(2)的下端。
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