[实用新型]一种修复违规保持时间的电路结构有效
申请号: | 201320203028.6 | 申请日: | 2013-04-18 |
公开(公告)号: | CN203217573U | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 李长征 | 申请(专利权)人: | 上海华力创通半导体有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型揭示了一种修复违规保持时间的电路结构,该电路结构包含至少一个时序路径电路,该时序路径电路从寄存器开始,结束于寄存器,两个寄存器之间的矩形区域内设有标准单元高利用率区域,该时序路径电路走线经绕开该标准单元高利用率区域,从而使用线长增加延迟,以实现修复违规保持时间,能够在标准单元高利用率的情况下不提高标准单元高利用率,从而节约芯片面积、减小功耗及更利于时序收敛。 | ||
搜索关键词: | 一种 修复 违规 保持 时间 电路 结构 | ||
【主权项】:
一种修复违规保持时间的电路结构,该电路包含至少一个时序路径电路,该时序路径电路从寄存器开始,结束于寄存器,两个寄存器之间的矩形区域内设有标准单元高利用率区域,该时序路径电路走线经绕开该标准单元高利用率区域。
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