[实用新型]一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器

摘要

本实用新型涉及一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于，包括石英透镜、变频反射镜、可见光增透透镜和硅基探测器，四个部件都安装在内部涂黑的密封装置中，石英透镜安装至密封装置的入射窗口处，外部光源入射通过石英透镜后，入射到镀有荧光薄膜的变频反射镜上，光经变频反射镜反射到反射镜的下方的可见光增透透镜，经可见光增透透镜聚焦到水平安装在密封装置底部的硅基探测器上。实现紫外成像探测。在荧光薄膜反射发光面直接接收，避免了荧光薄膜透射接收时不可避免的自吸收损耗，有效提高了硅基探测器的紫外探测能力。

主权项

一种基于荧光薄膜的反射接收的紫外硅基探测器，其特征在于，包括石英透镜、变频反射镜、可见光增透透镜和硅基探测器，四个部件都安装在内部涂黑的密封装置中，石英透镜安装至密封装置的入射窗口处，外部光源入射通过石英透镜后，入射到镀有荧光薄膜的变频反射镜上，光经变频反射镜反射到反射镜的下方的可见光增透透镜，经可见光增透透镜聚焦到水平安装在密封装置底部的硅基探测器上。